Table 1 FWHM data of different diffraction planes (unit: °).

From: Analyses of crystal growth, optical, electrical, thermal and mechanical properties of an excellent detector-grade Cd0.9Mn0.1Te: V crystal

 

Diffraction crystal planes

Wafers

(111)

(220)

(311)

(400)

(331)

(422)

(511)

(440)

(531)

2-D

0.142

0.126

0.142

0.168

0.138

0.163

0.172

0.157

0.204

4-D

0.146

0.123

0.142

0.180

0.151

0.163

0.169

0.141

0.209

5-D

0.121

0.094

0.122

0.140

0.116

0.141

0.156

0.164

0.174

8-D

0.146

0.132

0.143

0.137

0.125

0.138

0.139

0.142

0.167

Back to article page