Fig. 5
EDX-mapping analysis of Ce/Hal-TCT-IDA. (a) SEM image of the selected part of sample, (b) combine (C, N, O, Al, Si, Ce), (c) Carbon (Ka), (d) Nitrogen (Ka), (e) Oxygen (Ka), (f) Aluminum (Ka), (g) Silicone (La), (h) Cerium (La).
Fig. 5 | Scientific Reports
